自然科学系

自然科学系 教員紹介 前のページに戻る
  VOEGELI Wolfgang フォグリ ヴォルフガング ミハエル 助教

所属研究組織 自然科学系基礎自然科学講座物理科学分野
所属教育組織 物理学教室 
専門分野
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学位 博士(工学)
学会における活動
社会における活動
担当授業科目
学部春学期
学部秋学期
学部通年
修士課程/教職大学院 春学期
修士課程/教職大学院 秋学期
修士課程/教職大学院 通年
特別専攻科
博士課程  
留学生対象科目
 
2019年
学会発表等光変換型ペンタセン前駆体薄膜の変換過程における温度の影響
溜池 祐太・Voegeli Wolfgang・荒川 悦雄・高橋 敏男・白澤 徹郎・鈴木 充朗・山田 容子・松下 正
2019年SPRUC顕微ナノ材料科学研究会・日本表面真空学会放射光部会・プローブ顕微鏡研究部会合同シンポジウム 、日本・つくば , P-3
イオン液体/金界面における電気二重層の時間発展
藤井宏昌, Wolfgang Voegeli, 若林裕助
日本物理学会第74回年次大会 、日本・福岡 , 15pE302-8
X線多波光学に向けた遠回り回折の研究
荒川悦雄, 沖津康平, 久木裕美子, フォグリヴォルフガング, 高橋敏男, 白澤徹郎
日本物理学会第74回年次大会 、日本・福岡 , 14aK108-1
2018年
著書
Compendium of Surface and Interface Analysis
Springer Singapore , Chapter 133
論文
Initial Conformation of Adsorbed Proteins at an Air−Water Interface
Yohko F. Yano, Etsuo Arakawa, Wolfgang Voegeli, Chika Kamezawa, Tadashi Matsushita
The Journal of Physical Chemistry B , 122 4662 -4666

A New Pentacene Polymorph Induced by Interaction with a Bi(0001) Substrate
Tetsuroh Shirasawa, Susumu Yanagisawa, Shin-nosuke Hatada, Wolfgang Voegeli, Yoshitada Morikawa, Toshio Takahashi
J. Phys. Chem. C , 122 11 6240 -6245

Observation of Structure of Surfaces and Interfaces by Synchrotron X-ray Diffraction: Atomic-Scale Imaging and Time-Resolved Measurements
Yusuke Wakabayashi, Tetsuroh Shirasawa, Wolfgang Voegeli, and Toshio Takahashi
Journal of the Physical Society of Japan , 87 061010
翻訳
3D Local Structure and Functionality Design of Materials
Wolfgang Voegeli, Yusuke Wakabayashi
World Scientific
学会発表等
Investigation of the Photoconversion of Pentacene Precursor Thin Films by Time-Resolved X-ray Reflectivity
Y. Tameike, W. Voegeli, E. Arakawa, T. Takahashi, T. Shirasawa, M. Suzuki, H. Yamada and T. Matsushita
14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) 、Japan・Sendai , 22P121

Time-resolved X-ray diffraction setup for in-situ observation of thin film growth
Wolfgang Voegeli、Masamitu Takahasi、Takuo Sasaki、Seiji Fujikawa、Tetsuroh Shirasawa、Etsuo Arakawa、Toshio Takahashi
第79回応用物理学会秋季学術講演会 、日本・名古屋 , 18p-212B-3
The 79th JSAP Autumn Meeting 、日本・名古屋 , 18p-212B-3
X線CTR散乱迅速測定によるBi超薄膜成長過程の原子レベル追跡
白澤 徹郎、Voegeli Wolfgang、溜池 裕太、荒川 悦雄、高橋 敏男
第79回応用物理学会秋季学術講演会 、日本・名古屋 , 18p-212B-4
光変換型ペンタセン前駆体薄膜の温度による変換過程への影響
溜池 祐太、Voegeli Wolfgang、荒川 悦雄、高橋 敏男、白澤 徹郎、山田 容子、鈴木 充朗、松下 正
第79回応用物理学会秋季学術講演会 、日本・名古屋 , 19a-231C-6

Sub-Second Time Resolution X-ray Diffraction for Observation of III-V Semiconductor Thin-Film Growth
W. Voegeli, M. Takahasi, T. Sasaki, S. Fujikawa, T. Shirasawa, E. Arakawa, T. Takahashi, T. Matsushita
The 15th International Surface X-ray and Neutron Scattering Conference 、韓国・Pohang

Investigation of the Photoconversion of Pentacene Precursor Thin Films by Time-Resolved X-ray Reflectivity
Yuta Tameike, Wolfgang Voegeli, Etsuo Arakawa, Toshio Takahashi, Tetsuroh Shirasawa, Mitsuharu Suzuki, Hiroko Yamada, Tadashi Matsushita
The 15th International Surface X-ray and Neutron Scattering Conference 、韓国・Pohang

Time Evolution of the Electric Double Layer Between the Ionic Liquid and Au Electrode
Yusuke Wakabayashi, Hayato Goto, Hiromasa Fujii, Wolfgang Voegeli, Etsuo Arakawa Tadashi Matsushita
The 15th International Surface X-ray and Neutron Scattering Conference 、韓国・Pohang

Real-Time Monitoring of Interface Processes by Wavelength Dispersive X-ray CTR Measurements
Tetsuroh Shirasawa, Wolfgang Voegeli, Etsuo Arakawa, Takuya Masuda, Toshio Takahashi, Kohei Uosaki, Tadashi Matsushita
The 15th International Surface X-ray and Neutron Scattering Conference 、韓国・Pohang

Dispersive X-ray scattering measurements for time-resolved observation of thin films
Wolfgang Voegeli、Etsuo Arakawa、Toshio Takahashi、Tetsuroh Shirasawa、Hiroo Tajiri、Masamitu Takahasi、Takuo Sasaki、Tadashi Matsushita
第65回応用物理学会春季学術講演会 、日本・東京 , 17a-F202-9
基板に誘起されたペンタセンの新しい結晶構造
白澤 徹郎、柳澤 将、畑田 真之介、Voegeli Wolfgang、森川 良忠、高橋 敏男
第65回 応用物理学会 春季学術講演会 、日本・東京 , 17p-F202-9
時分割X線反射率法を用いた有機薄膜試料の光変換の測定
溜池 祐太、Voegeli Wolfgang、荒川 悦雄、高橋 敏男、白澤 徹郎、鈴木 充朗、山田 容子、松下 正
第65回 応用物理学会 春季学術講演会 、日本・東京 , 20a-P7-33
Bi基板に誘起されたペンタセン薄膜の新しい結晶構造
白澤徹郎, 柳澤将, Voegeli Wolfgang, 森川良忠, 高橋敏男
日本物理学会 第73回年次大会 、日本・野田市 , 24pK603-13
時分割X線反射率測定による金/イオン液体界面の電気二重層構造の観測
後藤駿斗,Wolfgang Voegeli,荒川悦雄,松下正,若林裕助
2017年
論文
Fast Structure Determination of Electrode Surfaces for Investigating Electrochemical Dynamics Using Wavelength-Dispersive X-ray Crystal Truncation Rod Measurements
Tetsuroh Shirasawa Takuya Masuda, Wolfgang Voegeli, Etsuo Arakawa, Chika Kamezawa, Toshio Takahashi, Kohei Uosaki, and Tadashi Matsushita
J. Phys. Chem. C , 121 24726 -24732

A quick convergent-beam laboratory X-ray reflectometer using a simultaneous multiple-angle dispersive geometry
Wolfgang Voegeli, Chika Kamezawa, Etsuo Arakawa, Yohko F. Yano, Tetsuroh Shirasawa, Toshio Takahashi and Tadashi Matsushita
J. Appl. Cryst. , 50 2 570 -575

Evidence for a gold trimer on the Si(111)-√21×√21-(Ag + Au) surface
Toshio Takahashi, Yudai Yamaguchi, Tetsuroh Shirasawa, Wolfgang Voegeli, Hiroo Tajiri
Applied Surface Science , 432 147 -151
光誘起濡れ性変化におけるTiO2(110)表面の構造変化
白澤 徹郎, Wolfgang VOEGELI, 荒川 悦雄, 亀沢 知夏, 高橋 敏男, 松下 正
表面科学38 12 620 -625
翻訳物理 : 探究と創造の歴史
新田 英雄, ヴォルフガング・フォグリ, フォグリ未央
丸善出版(Tokyo)
学会発表等
Investigation of Photoconversion and Thermal Conversion of Organic Thin Films by Time-Resolved X-ray Reflectivity
Y. Tameike, W. Voegeli, E. Arakawa, T. Takahashi, T. Shirasawa, M. Suzuki, H. Yamada and T. Matsushita
The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 、日本・つくば , 3PA-32

In-Situ Structure Determination of the Pt(111) Electrode Surface during the Electro-Oxidation of Methanol
T. Shirasawa, T. Masuda, W. Voegeli, E. Arakawa, T. Takahashi, K. Uosaki and T. Matsushita
8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 、日本・つくば , 4aA2-2

Time-Resolved X-Ray Reflectivity and Surface Diffraction Using Monochromatic Undulator Radiation
W. Voegeli, E. Arakawa, T. Takahashi, T. Shirasawa, H. Tajiri and T. Matsushita
8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 、日本・つくば , 6PN-85
Minimal-functionによるSi(111)-√21×√21-(Ag+Au)構造の考察
高橋敏男, 山口雄大, 白澤徹郎B, Wolfgang Voegeli, 田尻寛男
日本物理学会秋季大会 、日本・盛岡市 , 21pPSB-30
時分割X線反射率測定による金/イオン液体界面の電気二重層構造の観測
後藤駿斗, Wolfgang Voegeli, 荒川悦雄, 松下正, 若林裕助
日本物理学会2017年秋季大会 、日本・盛岡市 , 22aA45-5
時分割X線 CTR 散乱法を用いた電気化学反応中の Pt(111) 電極表面構造変化の解析
白澤 徹郎, 増田 卓也, Voegeli Wolfgang, 荒川悦雄, 高橋 敏男, 魚崎 浩平, 松下 正
第78回応用物理学会秋季学術講演会 、日本・福岡 , 6a-S41-9
検出器によりエネルギー弁別を行い元素分析するX線CT装置の研究
An element-specific X-Ray CT instrument using an energy-discriminating detector
伊藤雅恭,片峯耕司,フォグリヴォルフガング,荒川悦雄
第54回アイソトープ・放射線研究発表会 要旨集 、日本国・東京都文京区 , 2a-Ⅲ-02

Dispersive X-ray Scattering Measurements Using Monochromatic Undulator Radiation: Towards Millisecond Time Resolution
Voegeli Wolfgang, 荒川悦雄, 高橋敏男, 白澤徹郎, 田尻寛男, 松下正
日本物理学会 第72回年次大会 、日本・豊中市 , 17aC43-6
X線CTR散乱プロファイル同時測定によるメタノール電気化学的酸化におけるPt(111)電極表面構造変化のその場追跡
白澤徹郎, 増田卓也, Voegeli Wolfgang, 荒川悦雄, 高橋敏男, 魚崎浩平, 松下正
日本物理学会 第72回年次大会 、日本・豊中市 , 17pD41-11
メタノール電気酸化における Pt(111)電極表面構造変化の多波長同時分散 CTR 散乱法によるその場追跡
白澤徹郎,増田卓也,Voegeli Wolfgang,荒川悦雄,高橋敏男,魚崎浩平,松下正
第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 、日本・神戸 , 3C002

Quick surface/interface X-ray scattering measurements using monochromatic undulator radiation
W. Voegeli,荒川悦雄,高橋敏男,白澤徹郎,田尻寛男,松下正
第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 、日本・神戸 , 3C008
X 線磁気回折実験における PILATUS 制御・解析プログラムの開発
加藤康平,高嶋雅仁,大沢冬樹子,下山秀文,平野馨一,永谷康子,小菅隆,亀沢知夏,Wolfgang Voegeli,荒川悦雄,鈴木宏輔,桜井浩,伊藤正久
第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 、日本・神戸 , 8P058

1. Time-Resolved X-ray Scattering Observation of the Photoconversion of Pentacene-Diketone Films to Pentacene
W. Voegeli,荒川悦雄,高橋敏男,白澤徹郎,鈴木充朗,山田容子,松下正
第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 、日本・神戸 , 9P061
学術研究・教育上の開発特許第6206901 散乱強度分布の測定方法及び測定装置 松下 正、フォグリ ヴォルフガング、白澤 徹郎、▲高▼橋 敏男、荒川 悦雄による特許出願
Patent granted EP13862246.9, Patent granted US9,714,907 B2, Tadashi Matsushita, Wolfgang Voegeli, Tetsuro Shirasawa, Toshio Takahashi, Etsuo Arakawa.
2016年
論文
Structural Change of the Rutile–TiO2(110) Surface During the Photoinduced Wettability Conversion
T. Shirasawa, W. Voegeli, E. Arakawa, T. Takahashi, T. Matsushita
J. Phys. Chem. C , 120 29107 -29115
教育用3次元X線CT装置の開発と利用
荒川 悦雄, 岩見 隆太郎, 本久 靖子, 亀沢 知夏, 鴨川 仁, フォグリ ヴォルフガング
RADIOISOTOPES65 3 119 -128

Dynamical Response of the Electric Double Layer Structure of the DEME-TFSI Ionic Liquid to Potential Changes Observed by Time-Resolved X-ray Reflectivity
Voegeli, Wolfgang / Arakawa, Etsuo / Matsushita, Tadashi / Sakata, Osami / Wakabayashi, Yusuke
Zeitschrift für Physikalische Chemie , 230 4 577
学会発表等
In-situ observation of the photoconversion of organic thin films
Voegeli Wolfgang, 荒川悦雄, 白澤徹郎, 鈴木充朗, 山田容子, 高橋敏男, 松下正
日本物理学会 2016年秋季大会 、日本・金沢市

In-Situ Observation of the Structural Evolution During the Anodic Oxidation of Silicon
W. Voegeli, E. Arakawa, T. Shirasawa, T. Matsushita
The 18th International Conference on Crystal Growth and Epitaxy (ICCGE-18) 、Nagoya, Japan

Evidence for a gold trimer on the Si(111)-√21×√21-(Ag+Au) surface
Toshio TAKAHASHI, Yudai YAMAGUCHI, Tetsuroh SHIRASAWA, Wolfgang VOEGELI, Hiroo TAJIRI

Quick thin film/multilayer characterization using convergent-beam X-ray scattering measurements
Wolfgang VOEGELI, Chika KAMEZAWA, Hirokazu SAITO, Etsuo ARAKAWA, Tetsuroh SHIRASAWA, Toshio TAKAHASHI, Yohko F. YANO, Yumiko TAKAHASHI, Tadashi MATSUSHITA
アポロニウスの球を用いた3次元空間に於ける放射線源の位置特定法
佐藤凱, フォグリ ヴォルフガング, 荒川悦雄
第53回アイソトープ・放射線研究発表会 、日本・東京 , 3a-Ⅱ-06
単色アンジュレータ光を用いた多角度同時分散型反射率計
フォグリ ヴォルフガング,白澤徹郎,荒川悦雄,齋藤広和,松下正
第29回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム JSR2016 、つくば
2015年
学会発表等
Anodic Oxidation of Silicon Observed In-Situ by Specular X-ray Reflectivity
Wolfgang Voegeli, E. Arakawa, C. Kamezawa, R. Iwami, T. Shirasawa and T. Matsushita
ALC '15, 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '15 、Matsue, Japan , 8

An asymmetric crystal polychromator with a wide wavelength range for time-resolved surface diffraction measurements
Voegeli Wolfgang,白澤徹郎,荒川悦雄,松下正
日本物理学 2015会秋季大会 、日本・大阪府吹田市 , 18aAD-5
逆格子マップおよびX線反射率曲線の迅速測定法ーin situ測定を目指してー
松下 正、Voegeli Wolfgang

Observation of irreversible structural changes of surfaces and thin films with time-resolved X-ray reflectivity and diffraction
Wolfgang Voegeli, Etsuo Arakawa, Tetsuroh Shirasawa, Toshio Takahashi, Yohko F. Yano, Tadashi Matsushita
588. WE-Heraeus-Seminar on 'Element Specific Structure Determination in Materials on Nanometer and Sub-Nanometer' 、ドイツ・Bad Honnef

A method for quick measurement of the surface X-ray diffraction profile
Voegeli Wolfgang、白澤徹郎、荒川悦雄、亀沢知夏、岩見隆太郎、松下正
日本物理学会第70回年次大会 、日本・東京 , 24aCH-1
実験室 X 線源を用いた、時分割反射率計、回折計の開発
亀沢 知夏, Voegeli Wolfgang, 荒川 悦雄, 松下 正, 白澤 徹郎, 高橋 敏男, 矢野 陽子
日本物理学会第70回年次大会 、日本・東京 , 24aCH-2
表面X線回折法によるSi(111)-5x2-Au表面構造モデルの決定
白澤徹郎,Voegeli Wolfgang,山口雄大,高橋敏男
日本物理学会第70回年次大会 、日本・東京 , 21aAB-11

Observation of oxide growth during anodic oxidation of silicon by time-resolved X-ray reflectivity
W. Voegeli, E. Arakawa, C. Kamezawa, R. Iwami, T. Shirasawa, T. Matsushita
日本放射光学会年会 、日本・草津市 , 11P063

Development of a method for quick X-ray reflectivity measurements using monochromatic synchrotron radiation
W. Voegeli, E. Arakawa, C. Kamezawa, T. Matsushita
日本放射光学会年会 、日本・松江市 , 12P076
これ以前の業績  
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